TITC
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主要備品
機械電子研究所 化学試験及び分析設備
高分解能走査型電子顕微鏡
機器概要
試料表面に電子線を照射し、試料から発生する2次電子等を検出して高分解能な表面形態観察を行う。
主な用途
各種材料の拡大形態観察
設備名
高分解能走査型電子顕微鏡
メーカー名
日本電子(株)
型式
JSM-6301F
導入年
H05年度
仕様
倍率:20倍〜300,000倍
元素分析:B〜U
設置場所
機械電子研究所
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