ものづくり研究開発センター 化学試験及び分析設備
走査型電子顕微鏡
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機器概要製品や破面等の表面形態観察や、製品や製品中異材の元素分析・元素マッピングを用いて、素材や製品の開発、或いは、クレーム処理に利用することができます。 主な用途ミクロな部分の観察及び分析 |
| 設備名 | 走査型電子顕微鏡 |
| メーカー名 | 日立 |
| 型式 | S-3400N |
| 導入年 | H17年度 |
| 仕様 | 最大試料サイズ：２００ｍｍφ×８０ｍｍｈ 観察可能領域：１３０ｍｍφ 観察倍率：５倍〜５万倍以上 検出可能元素：Ｂｅ〜Ｕ 面・線・点分析が可能 面分析、全ポイントスペクトル保存可能 |
| 設置場所 | ものづくり研究開発センター |