TITC
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主要備品
ものづくり研究開発センター 化学試験及び分析設備
薄膜X線回折装置
機器概要
X線回折法により材料及びその表面の結晶構造解析を行う。特に光学系として
平行ビーム系をもち、薄膜材料の結晶型や膜厚などの解析を行う
主な用途
薄膜材料の結晶型や膜厚などの解析
設備名
薄膜X線回折装置
メーカー名
(株)マック・サイエンス
型式
MAC-MXP3A
導入年
H13年度
仕様
X線発生部:3kW発生装置Cu管球
測角範囲:−3°〜150°
試料台:最大φ100mm×3mm
設置場所
ものづくり研究開発センター
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