機械電子研究所　材料製品試験設備

落下衝撃試験機

機器概要 　本装置は，電子機器や機械部品等にJIS等で規定された衝撃負荷を与える装置です。落下高さと緩衝体形状等を変化させることにより，任意の正弦半波を発生できます。製品の衝撃耐久性能や輸送時の衝撃負荷への耐性を評価する試験を行えます。 主な用途 　電子部品や機械部品の耐久性および電子機器や機械、薬品等の輸送時における耐衝撃性を評価できます。振動試験や環境試験と併せて利用されることが多く、品質保証に不可欠な試験を行う装置です。

設備名	落下衝撃試験機
メーカー名	神栄テクノロジー株式会社
型式	MDST-300
導入年	R04年度
仕様	・衝撃波形：正弦半波 ・衝撃加速度：30~10000G ・作用時間：0.1~18ms ・試料台寸法：300�o×300�o
設置場所	機械電子研究所