機械電子研究所　加工設備

試料研磨装置

機器概要 　本装置は、電子顕微鏡や光学顕微鏡等での観察、元素分析を行うための試料調整として、観察・分析対象となる面の機械研磨を行う機能を有する装置です。 主な用途 　電子部品、機械部品等の断面観察や元素分析、鉄筋の溶接部の断面マクロ試験のための試料の機械研磨などに使用されます。

設備名	試料研磨装置
メーカー名	株式会社ストルアス
型式	LaboPol-30
導入年	R05年度
仕様	標準試料ホルダー寸法：φ25〜40mm×6個 研磨盤直径：300mm 研磨盤回転速度：50〜500rpm 試料保持部回転速度：50〜150rpm 試料押付荷重：30〜300N
設置場所	機械電子研究所