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機器概要X線を試料に照射した時に発生する蛍光X線のエネルギーや強度から、試料に含有する元素の定性および定量分析ができます。非破壊分析で固体、液体、粉体等の試料が分析可能であり、また、化学分析のような前処理が不要である。主な用途各種工業製品の微小領域の元素分析、埋没異物の元素分析、メッキの膜厚測定、含水物質の分析等ができる。 |
設備名 | 小型蛍光X線分析装置 |
メーカー名 | 株式会社堀場製作所 |
型式 | XGT-7200V |
導入年 | H25年度 |
仕様 |
・測定元素:Na〜U ・試料室雰囲気:大気、真空 ・エックス線照射径:φ10μm、φ1.2mm ・マッピングサイズ:最大100mm×100mm ・エックス線透過像:撮影可能 |
設置場所 | 生活工学研究所 |