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機器概要各種試料にX線を照射することで、その透過画像を取得し、これを再構成・解析することで、試料の微細構造、微細内部欠陥等を非破壊で解析することができる装置です。主な用途セルロースナノファイバーを始めとした複合材料内部の配向性、欠陥評価や電子基板のボイドやクラック等の微細な欠陥評価など、各種分野の製品における内部状態・欠陥の評価に活用することができます。 |
設備名 | 高機能材料用ナノフォーカスX線CT装置 |
メーカー名 | ブルカージャパン株式会社 |
型式 | SKYSCAN 1272 |
導入年 | H29年度 |
仕様 |
・X線管電圧:20〜100 kV ・最大出力:10 W ・X線検出器:11メガピクセルCCD ・分解能:<0.45 μm ・最大サンプルサイズ: φ75 mm、長さ70 mm |
設置場所 | ものづくり研究開発センター |