機械電子研究所 環境試験設備

冷熱環境試験装置

機器概要 気槽中で試料に、高温と低温を短時間で交互に繰り返し与え、試料の信頼性・耐久性を評価することができます。 JIS C 0025やJASO D 001に準拠した試験をすることが可能です。 主な用途 機械部品や電子機器の市場不良の再現試験、基板実装信頼性評価、故障解析等に利用することができます。 また、試験中のサンプルに熱電対を貼り付け温度測定を行ったり、通電しながらの試験も可能です。

設備名	冷熱環境試験装置
メーカー名	エスペック(株)
型式	大型：TSA-71S-W 小型：TSE-11-A
導入年	H21年度
仕様	大型　高温さらし温度範囲：+60〜+200℃ 　　　 低温さらし温度範囲：-70〜0℃ 　　　 テストエリア寸法：410×460×370 小型　高温さらし温度範囲：+60〜+200℃ 　　　 低温さらし温度範囲：-65〜0℃ 　　　 テストエリア寸法：320×148×230
設置場所	機械電子研究所