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機器概要非破壊で固体、液体、粉体試料の構成元素の定性分析および定量分析をNa〜Uの範囲で行なうもの。主な用途各種工業製品の微小領域の元素分析、EUのRoHS指令に対応した有害微量元素のスクリーニング分析、メッキの膜厚測定、含水物質の分析 |
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設備名 | マイクロ蛍光X線分析装置 |
メーカー名 | 堀場製作所 日本電子 |
型式 | XGT5000WR JSX3400R |
導入年 | H18年度 |
仕様 | 検出可能元素:Na〜U 最大試料サイズ:350mm×400mm×40mm 観察可能領域:100mm×100mm |
設置場所 | ものづくり研究開発センター |