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機器概要気槽中で試料に、高温と低温を短時間で交互に繰り返し与え、試料の信頼性・耐久性を評価することができます。JIS C 0025やJASO D 001に準拠した試験をすることが可能です。 主な用途機械部品や電子機器の市場不良の再現試験、基板実装信頼性評価、故障解析等に利用することができます。また、試験中のサンプルに熱電対を貼り付け温度測定を行ったり、通電しながらの試験も可能です。 |
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設備名 | 冷熱環境試験装置 |
メーカー名 | エスペック(株)製 |
型式 | 大型:TSA-71S-W 小型:TSE-11-A |
導入年 | H21年度 |
仕様 | 大型 高温さらし温度範囲:+60〜+200℃ 低温さらし温度範囲:-70〜0℃ テストエリア寸法:410×460×370 小型 高温さらし温度範囲:+60〜+200℃ 低温さらし温度範囲:-65〜0℃ テストエリア寸法:320×148×230 |
設置場所 | 機械電子研究所 |