機器概要試料にX線を照射し、試料からの回折X線を1次元・2次元検出器により検出し、得られた回折パターンから化合物の同定や結晶構造、配向性、残留応力、極点図形、粒子径についての解析をすることができます。 |
主な用途・物質の結晶体の特定・異物などの化合物同定 |
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設備名 | X線回折測定装置 |
メーカー名 | 株式会社リガク |
型式 | Smart Lab |
導入年 | H29年度 |
仕様 |
・Cu管球とCo管球により測定可能 ・分析径500μm以下の微小部測定可能 ・2次元の検出器による ・温度制御測定が可能 |
設置場所 | 機械電子研究所 |