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機器概要細く絞った電子線を試料表面に照射・走査し、発生する信号を検出して、微細構造の観察や元素組成分析、および結晶方位解析を行う装置です。サーマルショットキー電界放出形電子銃を使用しており、幅広い材料についてナノオーダーで表面観察することが可能であり、また大照射電流により分析にも適しています。 主な用途・二次電子像による表面構造の観察例)10万倍以上の高倍率での観察,照射エネルギーを制御した最表面の微細構造や絶縁体試料の観察など ・反射電子像による組成分布の観察 ・ナノ領域の元素組成分析 ・金属やセラミックスの結晶方位解析 |
設備名 | 電界放出形走査電子顕微鏡 |
メーカー名 | 日本電子株式会社 |
型式 | JSM-7001FTTLS |
導入年 | H22年度 |
仕様 | ・電子銃 サーマルショットキー電界放出形電子銃 ・倍率 10倍~1,000,000倍 ・加速電圧 0.1kV~30kV ・照射電流 1pA~200nA ・分析機能 元素組成分析(EDS),結晶方位解析(EBSD) EDS/EBSD同時測定可能 |
設置場所 | ものづくり研究開発センター |