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機器概要試料にArイオンビームを照射し、電子線が透過できるように、数十nmの薄片化処理を行う。主な用途金属·高分子材料や製品の薄い試験片を透過型電子顕微鏡(TEM)観察が出来るように数十nm の厚みの薄片に加工する。 |
設備名 | TEM用試料作製装置 |
メーカー名 | 日本電子(株) |
型式 | EM-09100IS |
導入年 | H22年度 |
仕様 | イオン加速電圧:1~8kV エッチングレート: Si 換算で5 μm/min エッチング自動停止機能 CCDカメラによる加工経過観察機能 |
設置場所 | ものづくり研究開発センター |