機械電子研究所 測定計測設備
強誘電体テストシステム (R2 強誘電体テストシステム制御部)
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機器概要強誘電体に電圧を印加することにより、発生する電荷を検出し、電界-分極ヒステリシス曲線を測定します。 レーザー変位計と組み合わせることで電圧-変位曲線も測定できます。 主な用途強誘電体材料の電気特性測定およびこれを用いたセンサ、アクチュエータ、コンデンサ等の電子デバイスを評価するために使用されます。 |
| 設備名 | 強誘電体テストシステム |
| メーカー名 | 東陽テクニカ(株) |
| 型式 | FCE-1 (FCE10-S) |
| 導入年 | H12年度 R2年度 |
| 仕様 | 波形発生部：最大電圧 ±４ｋＶ 変位測定範囲：５ｎｍ〜４０ｎｍ ・測定可能周波数：10mHz-10kHz ・荷電測定範囲：5pC〜100μC ・三角波ダブルパルス測定可能 |
| 設置場所 | 機械電子研究所 |