機械電子研究所 測定計測設備

強誘電体テストシステム (R2 強誘電体テストシステム制御部)


強誘電体テストシステム【r2_133321580255.jpg】
機器概要

 本装置は、強誘電体に電圧を印加することにより、発生する電荷を検出し、電界-分極ヒステリシス曲線を測定します。
レーザー変位計と組み合わせることで電圧-変位曲線も測定できます。
主な用途

 強誘電体材料の電気特性測定およびこれを用いたセンサ、アクチュエータ、コンデンサ等の電子デバイスを評価するために使用されます。

設備名 強誘電体テストシステム
メーカー名 東陽テクニカ(株)
型式 FCE-1 (FCE10-S)
導入年 H12年度 R2年度
仕様 波形発生部:最大電圧 ±4kV 
変位測定範囲:5nm〜40nm
・測定可能周波数:10mHz-10kHz
・荷電測定範囲:5pC〜100μC
・三角波ダブルパルス測定可能
設置場所 機械電子研究所