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表面の硬さは、ドライボロジー特性決める重要な因子の1つであり、半導体デバイスをはじめとして、MEMS デバイスなどにとってもその特性を決める重要な値である。さらに、近年ナノテクノロジーの発展により、材料に求められる構造は、バルク的な均一な構造のものから、Low-k材などのミクロポーラス、メソポーラス構造へと変化しつつあり、薄膜の厚みも数ミクロンから数十nmへ、膜も単層から多層膜へと、ますます複雑になっている。そこで、ナノインデンテーション法の加重変位曲線を詳細に解析することで、多層膜の評価を可能にする技術・・ |
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