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発熱量が多い電源機器においては、はんだ接合部の信頼性を確保する上で、熱疲労損傷が最も重 要な問題の一つである。はんだ接合部の信頼性を評価する手法として、CAE 技術の基板設計段階へ の導入が試みられている。例えば、はんだ接合部の非弾性ひずみの変化を解析することにより、そ の疲労き裂発生寿命を評価するCAE 技術が広く用いられるようになってきた。しかし、はんだ接合部の破断寿命には、き裂進展寿命の占める割合が大きく、現状のき裂発生寿命の評価だけでは、安全率が大きすぎる評価となっている。そこで、本研究では、従来・・・ |
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