富山県産業技術研究開発センター
機械電子研究所 化学試験及び分析設備
X線回折測定装置
機器概要
試料にＸ線を照射し、試料からの回折Ｘ線を１次元・２次元検出器により検出し、得られた回折パ ターンから化合物の同定や結晶構造、配向性、残留応力、極点図形、粒子径についての解析をするこ とができます。
主な用途
・物質の結晶体の特定
・異物などの化合物同定
基本仕様
| 設備名 | X線回折測定装置 |
|---|---|
| メーカー名 | 株式会社リガク |
| 型式 | Smart Lab |
| 導入年 | H29年度 |
| 設置場所 | 富山県産業技術研究開発センター 機械電子研究所（富山市） |
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